芯片材料本身破裂現(xiàn)象

　　芯片破損大于單邊芯片寬度的1/5或破損處于斜角時，各單邊長大于2/5芯片或破損到鋁墊，此類芯片都不

可接受(這個是芯片檢驗標準中的一個專案)。產(chǎn)生不良現(xiàn)象的原因主要有：

　　1、芯片廠商作業(yè)不當

　　2、芯片來料檢驗未抽檢到

　　3、線上作業(yè)時未挑出

　　解決方法：

　　1、通知芯片廠商加以改善

　　2、加強進料檢驗，破損比例過多的芯片拒收。

　　3、線上作業(yè)Q檢時，破損芯片應(yīng)挑出，再補上好的芯片。

       LED固晶機器使用不當

　　1、機臺吸固參數(shù)不當

　　機臺的吸嘴高度和固晶高度直接受機臺電腦內(nèi)參數(shù)控制。參數(shù)大，吸固高度小;參數(shù)小，吸固高度大，而芯

片的破損與否，直接受機臺吸固高度參數(shù)影響。產(chǎn)生不良現(xiàn)象的原因主要是：機臺參數(shù)大，呼固高度低，芯片

受力過大，導(dǎo)致芯片破損。

　　解決方法：

　　調(diào)整機臺參數(shù)，適當提高警惕吸嘴高度或固晶高度，在機臺“SETUP”模式中的“Bondheadmenu”內(nèi)的第一項

“PickLevel”調(diào)節(jié)吸嘴高度，再在第二項“BondLevel”調(diào)節(jié)固晶高度。

　　2、吸嘴大小不符

　　大小不同的芯片要用不同的吸嘴固晶。大的芯片用小的吸嘴、芯片吸不起來容易漏固;小的芯片用大的吸

嘴、芯片容易打破，因此選用適當?shù)奈祝枪毯眯酒那疤帷．a(chǎn)生不良現(xiàn)象的原因是：吸咀太大，打破芯

片。

　　解決方法：選用適當?shù)拇删住?/p>

       人為不當操作造成破裂

　　一、作業(yè)不當

　　未按規(guī)定操作，以致碰破芯片。產(chǎn)生不良現(xiàn)象的原因主要有：

　　1、材料未拿好，掉落到地上。

　　2、進烤箱時碰到芯片

　　解決方法：拿材料時候，手要拿穩(wěn)。進烤箱時，材料要平著，輕輕的放進去，不可傾斜或用力過猛。

　　二、重物壓傷

　　芯片受到外力過大而破裂。產(chǎn)生這種不良現(xiàn)象的原因主要有：

　　1、顯微鏡掉落到材料上，以致打破芯片

　　2、機臺零件掉落到材料上。

　　3、鐵盤子壓到材料

　　解決方法：

　　1、顯微鏡螺絲要鎖緊

　　2、定期檢查機臺零件有無松脫。

　　3、材料上不能有鐵盤子等任何物體經(jīng)過。